| 品牌： | 天士立 |
| 型號： | ST-HeatX |
| 溫度范圍： | -35℃~180℃ |
| 單價： | 985000.00元/套 |
| 發(fā)貨期限： | 自買家付款之日起 天內發(fā)貨 |
| 所在地： | 陜西 西安 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 發(fā)布時間： | 2024-07-18 04:36 |
| 最后更新： | 2024-07-18 04:36 |
| 瀏覽次數： | 530 |
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熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進口。產品符合JESD 51-1、JESD 51-14標準，可輸出結構函數，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組的_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)熱阻_穩(wěn)態(tài)熱阻_Kcurve_Rth_Zth_熱結構分析
超高精度：溫度(T;)分辨率℃℃，1MHz變頻采樣:
技術lingxian：第三代瞬態(tài)熱測試技術，可輸出結構函數進行熱結構分析
xingyelingxian：具備4路高速高精度采集模塊，采樣速度，精度均達到行業(yè)dingjian水平
架構lingxian：采用B/S架構控制系統(tǒng)、可遠程對設備進行狀態(tài)監(jiān)控和控制，實現智能化;
瞬態(tài)監(jiān)測：連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結溫變化，同步采集溫度監(jiān)控點數據;
NPS技術：同步采集溫度監(jiān)控點(NTC/PTC)和結溫數據，形成數據關系矩陣。
天士立ST-HeatX熱阻測試儀的應用場景器件結殼熱阻測量天士立ST-HeatX熱阻測試儀
散熱結構分析天士立ST-HeatX熱阻測試儀
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TIM材料熱導率測試天士立ST-HeatX熱阻測試儀
熱缺陷檢測天士立ST-HeatX熱阻測試儀
天士立ST-HeatX熱阻測試儀的“功能指標”產品品牌 | 天士立 | |
產品型號 | ST-HeatX | |
產品名稱 | 半導體熱特性測試系統(tǒng) | |
主要功能 | 適用于多種類型功率器件及其模組的瞬態(tài)熱測試、熱結構分析、結構函數輸出 | |
試驗對象 | DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC | |
試驗標準 | 符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相關標準要求 | |
試驗模式 | DIODE模式 SAT模式 IGBT模式 RDSON模式 HEMT模式 | |
門控電源 | 數量 4 輸出方式 隔離輸出 輸出范圍 -10V ~ 20V 輸出誤差 ≤0.1V + 0.5%set 分辨率 V | |
NTC/PTC 數據同步 采集 | NTC測量范圍 250kΩ ? 100Ω PTC測量范圍 100Ω ? 250kΩ 最高采樣頻率 1MHZ 同步時間誤差 ≤1μs | |
柵極漏電 測量 | 量程分辨率1nA ~ 850nA@nA 量程分辨率850nA ~ 1mA@uA | |
加熱電源 | 量程 30A / 10V 電流輸出誤差 ≤0.05A + 0.1%set 電流設定分辨率 A 開關速度1μs | |
測溫電流源 （主） | 量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V 分辨率 1mA 誤差 ≤2mA + 0.5%set | |
測溫電流源 （輔） | 量程 0 ~ 100mA / 10V 分辨率 mA 誤差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set 誤差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set | |
測量通道 | 數量 4 動態(tài)電壓測量范圍 ±5V(差分模式) 動態(tài)電壓測量誤差 ≤1mV + 0.5%set 動態(tài)電壓量程 100mV、200mV、400mV、800mV 動態(tài)電壓分辨率 1.6μV 采樣頻率 最高1MHz 采樣模式 連續(xù)變頻采樣 |
天士立ST-HeatX熱阻測試儀的“瞬態(tài)熱測試”